S916數顯介質損耗測試裝置使用說明書
一. 概述
S916介質損耗測試裝置可與本公司生產的各型號Q表配用,對絕緣材料進行高頻介電常數和介質損耗系數(損耗角正切值)的測試。S916介質損耗測試裝置采用了帶數顯的微測量裝置,因而在測試時,讀數更直觀方便,數據更。
二. 工作特性
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
三. 工作原理
本測試裝置主要由一個數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數。
四. 使用方法
各部件名稱:
5位數字顯示;In:(右上角) 英制測量模式;mm:公制測量模式。
2.被測樣品的準備
被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
下面推薦一種能提高測試性的方法:準備二片厚0.05mm的圓形錫膜,直徑和平板電容器極片一致,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測樣品。
3. 測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法,操作時,要避免人體感應的影響。
4.介電常數Σ的測試
a. 再松開二極片,把被測樣品夾入二極片之間,調節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調電容容量,使Q表處于諧振點上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q表又失諧,此時調節(jié)平板電容器,使Q表再回到諧振點上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4
Σ=D2 / D4
5.介質損耗系數的測試
a. 把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。
把被測樣品夾入二極片之間,調節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止。改變Q表上的主調電容容量,使Q表處于諧振點上,讀得Q值,記為Q2。電容讀數記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品(保持平板電容器間的間距不變),這時Q表又失諧,再改變Q表上的主調電容容量,使Q表重新處于諧振點上。讀得Q值,記為Q1。電容讀數記為C1。
c. 然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調電容容量,重新使之諧振,電容讀數記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
d. 計算被測樣品的介質損耗系數
式中:CZ為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0為測試電感的分布電容(參考LKI-1電感組的分布電容值)
使用本測試裝置和Q表配用,對絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,例如:紙張、木材、粉壓片料等,進行相對測量,其測試方法就非常簡便、實用,采取被測樣品和標準樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動等等。
測試時先把標準樣品放入平板電容器,調節(jié)Q表主調電容,諧振后讀得Q值,再換上被測樣品,調節(jié)圓筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標準樣品和被測樣品高頻損耗值一致,反之說明二者性能有區(qū)別,被測樣品和標準樣品的配用原材料相差較大。
2.本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,可以送生產廠家定期檢查,要檢測以下幾個指標:
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